Ալիքի երկարության օպտոէլեկտրոնային F-թետա սկանավորող ոսպնյակ

F-Թետա հարթ դաշտի սկանավորման ոսպնյակ

1. F-THETA ոսպնյակները լայնորեն օգտագործվում են այնպիսի կիրառություններում, ինչպիսիք են լազերային նշագրումը, եռակցումը և փորագրությունը:

2. Հաճախ օգտագործվող F-THETA ոսպնյակները ներառում են սովորական օպտիկական ապակի, ամբողջությամբ քվարցային և երկու տեսակի ոսպնյակների խառնուրդ՝ կախված մուտքային լազերի հզորությունից և իմպուլսի լայնությունից: Բոլոր քվարցային F-THETA ոսպնյակները հաճախ օգտագործվում են բարձր հզորության լազերային և պիկոսայրկյանային լազերային կիրառություններում։

3. Լուսային կետը միատարր է ամբողջ կադրում, աղավաղումը 1%-ից պակաս է։ 

F-Թետա հարթ դաշտի սկանավորման ոսպնյակ

1. F-Թետա ոսպնյակները լայնորեն օգտագործվում են լազերային նշագրման, եռակցման, փորագրության և այլ կիրառություններում, հաճախ գալվանոմետրիկ սկանավորման համակարգերի հետ համատեղ։
2. Սովորական դաշտային ոսպնյակների նյութերից են ստանդարտ օպտիկական ապակին, լիարժեք քվարցը և երկուսի հիբրիդը: Ընտրությունը կախված է մուտքային լազերի հզորությունից և իմպուլսի լայնությունից: Լիարժեք քվարցային դաշտային ոսպնյակները սովորաբար օգտագործվում են բարձր հզորության լազերային և պիկոսայրկյանային լազերային կիրառություններում:

Միատարր կետի չափ ամբողջ սկանավորման դաշտում՝ ցածր աղավաղմամբ (<1%)։

• Քվարցային սկանավորման ոսպնյակների շարք

Հալված սիլիցիումային ոսպնյակներն օգտագործվում են բարձր հզորության կարճ իմպուլսային լազերային նյութերի մշակման համար: Հալված սիլիցիումային ոսպնյակներն ունեն նվազագույն ջերմային ֆոկուսի տեղաշարժ, դիմացկուն են վնասմանը բարձր հզորության լազերների հետ օգտագործելիս, իսկ ոսպնյակի ծածկույթը նվազեցնում է անդրադարձունակությունը և կլանումը, առաջարկելով գործնական կիրառությունների ավելի լայն շրջանակ: